惠普4278A电容计HP4278A
4278A技术指标：
4278A测量参数 C-D，Q，ESR，G
4278A测试信号
4278A频率： 1kHz和1MHz±0.02%
HP4278A信号电平： 0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进
HP4278A测量时间： 6.5ms/10ms/21ms(典型值）
HP4278A测量范围 测量参数 1kHz 1MHz正常模式
1MHz***
4278A电缆长度补偿 0,1或2m
Agilent 4278A比较器：对电容的10仓室分类，对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试
存储卡插槽 外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用
（存储卡可任选，参见下面的选件004）。
4278A一般技术指标Agilent 4278A
测量速度:6.5ms/10ms/21ms
测量参数:C-D,Q,ESR,G
C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A详细资料：
HP4278A测量速度:6.5ms/10ms/21ms
HP4278A测量参数:C-D,Q,ESR,G
C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
技术指标：
测量参数
C-D，Q，ESR，G
测试信号
频率：
1kHz和1MHz±0.02%
信号电平：
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进
测量时间：
6.5ms/10ms/21ms(典型值）
测量范围
测量参数
1kHz
1MHz正常模式
1MHz***
0.01pF~200.000μF
0.00001pF~1280.00pF
0.00004pF~2663.00pF
0.00001~9.99999
0.00001pF~9.99999
0.00001pF~0.99999
电缆长度补偿
0,1或2m
比较器：
HP4278A对电容的10仓室分类，对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试
HP4278A存储卡插槽
HP4278A外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用（存储卡可任选HP4278A参见下面的选件
gilent 4278A 1kHz/1MHz电容测试仪是一台高速高可靠的***测试仪器，用于生
HP4278A产线和质量控制中作电容器的进出厂检。Agilent 4278A 能改善小电容量和中等电
HP4278A容器的测试效率（可测量以200μF，这个电容量能容纳多数陶瓷和薄膜电容器的数据值）。
HP4278A一般技术指标：
HP4278A工作温度/湿度
5°~45℃，在40℃时相对湿度为95%
电源
100,120,220Vac±10%,240Vac+5-10%,48~66Hz,200V
Amax
尺寸
约426mm(宽）*177mm(高）*498mm(长）（16.77英寸*6.97英寸*19.61英寸)
重量：
约15kg(33磅，标准）
***回收各类进口电子仪器仪表如：NI、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷伦/是德）、Keithley（吉时利）、、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能达）、Anritsu（安立）、ADVANTEST（爱德万）、FLUK(福禄克)、MARCONI（马克尼）、R/S（罗德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可罗马)、Prodigit(博计)、Extech(华仪)、JDSU(捷迪讯）、Ando（安腾）、Aeroflex（艾法斯）、STANFORD（斯坦福）、Lambda（电盛兰达）、YOKOGAWA（横河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（莱特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（阳光）、Prima（普锐马）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博伦）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝测）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（爱斯福）、GWINSTEK （固纬）
我公司主营产品；网络分析仪、频谱分析仪、综合测试仪、示波器、信号发生器、信号分析仪、色彩分析仪、数字通讯测试仪、高频信号源、频率计、功率计、音频分析仪、电源、数字源表、天馈线测试仪、光谱分析仪、噪声系数分析仪、数字万用表、静电计/高阻表、函数信号发生器、LCR测试仪、电子负载、纳伏表/皮安表、多用表校准仪、广播电视测试仪、高压机/耐压测试仪、直流电源分析仪/模块、数据采集器、逻辑分析仪、接收机、晶体管测试仪、调制度分析仪、蓝牙测试仪、阻抗分析仪、视频分析仪、光波测量系统、阻抗测试治具及附件、衰减器、探头、RoHS/环保检测仪、耦合板等等。