Agilent 4155A 半导体参数分析仪提供高分辨率/准确度和宽范围；I：1 fA 至 100 mA（20 fA偏移精度），V：1 微 V 至 100 V，采用直流或脉冲模式的全自动 IV 扫描测量，可扩展至 6 个SMU，同步应力/测量功能，两个高压脉冲发生器单元 (+/- 40 V)，时域测量：60 微秒 - 可变间隔，Zui多 10,001个点，易于使用：类似于曲线跟踪器的旋钮扫描，自动分析功能和自动化：内置 HP仪器 BASIC，触发 I/Q 功能。
主要特点
两个高压脉冲发生器单元 (+/- 40 V)
时域测量：60 微秒 - 可变间隔高达 10,001 点
易于使用的旋钮扫描，类似于曲线跟踪器
自动分析功能
内置安捷伦/惠普仪器 BASIC
触发 I/Q 能力
4145B半导体参数分析仪设计用于半导体的生产线和实验室，HP4145B是电子工业中***个可以独立对半导体器件和材料进行直流参数的仪器。HP4145B通过对器件加电压，测电流，HP4145B或加电流测电压
并将测试结果显示在内置的CRT显示器上，结果可根据用户需要显示为图形、表格、矩阵等等。
主要特点
在350μs之内就可以完成接触检测验证与报告，有利于保持高速生产效率
可以通过该仪器的前置面板或通过GPIB远程控制接触检测操作
内置的“源存储器”可编程序列发生器***多可存储100个不同的测试，以满足高速生产的需要
高达75000小时MTBF的可靠性设计，为不中断生产环境提供了良好的可靠性
内置的比较器简化了pass/fail测试
数字I/O支持快速键合或连接到元件机械手
0.012%的***度，5?的分辨率
